杠桿式測微計

⑴ 利用光杠桿把測微小長度Δl變成測y，光杠桿的放大率為2R/D，能否根據此式以增加R減小D來提高放大率有無限

有好處，可以增加放大倍數，減小誤差。
有限度的，因為儀器要求D遠大於R，所以不能無限度增加。

⑵ 量具與量儀具體分類有哪些

量具是指用來測量或檢驗零件尺寸的器具，結絕比較簡單，這種器具能直接指示出長度的單位、界限。例如：量塊、卡尺、千分尺等。
量儀是指用來測量零件或檢定量具的儀器，結構比較復雜。它是利用機械、光學、氣動、電動等原理，將長度單位放大或細分的測量工具，例如、氣動量儀、電子柱量儀、測長儀和萬能工具顯微鏡等。
量具、量儀按其用途一般可分為：
1、基準量具與量儀
量具------量塊、多面棱體、線紋尺等。
量儀------激光光波比較、光波干涉比較儀、立式光學計等。
2.通用量具與量儀
量具------卡規、塞規、環規、塞尺、鋼址尺、游標卡尺、百分尺、杠桿千分尺、半徑樣板、深度尺、高度尺等。
量儀------百分表、千分表、杠桿百分表、杠桿千分表、測微儀、測長儀。
量儀按其工作原理還可以分為：
（1）機械量儀：利用杠桿、齒輪、彈簧、等作為傳動放大機構，通過讀數裝置表現出來的一種測量儀器，例如：百分表、千分表、扭簧測微儀、杠桿齒輪式測微儀等。
（2）光學量儀：利用光的反射原理所構成的光學杠桿放大作用所製成的測量儀器，例如光較儀、測長儀、工具顯微鏡、投影儀等。
（3）氣動量儀：利用壓縮空氣流過零件表面時壓力或空氣流量變化的原理所構成的測量儀器，例如水柱式氣動量儀』水銀式氣動量儀、浮標式氣動量儀等。
(4)電動量儀：將長度尺寸的變化轉變成電感、電容等電量變化的測量儀器，例如電感式比較儀等。
3.測角量具與量儀
量具-----角尺、正弦規、萬能量角尺、圓錐量規、正切尺、角度量塊等。
量儀-----水平儀、光學分度頭（盤）、光學測角儀、光學傾斜儀和光學合象水平儀等。
4.檢測幾何形狀與相互位置的量具與量儀
量具-----平晶、平台、樣板平尺等
量儀------偏擺檢查儀、圓度儀和平直度測量儀等。
5.檢測表面光潔度的量具與量儀
量具-----光潔度樣板。
量儀-----干涉顯微鏡、輪廊儀（電感式、壓電式）和光切顯微鏡等。
6.專用量具和量儀

⑶ 什麼叫量具或量儀,可分為哪三種

量具是指用來測量或檢驗零件尺寸的器具，結構比較簡單，這種器具能直接指示出長度的單位、界限。列如鑄鐵平板、鑄鐵直角尺、卡尺、千分尺、量塊、刀口平尺等。
量儀是指用來測量零件或檢定量具的儀器，結構比較復雜。它是利用機械、光學、氣動、電動等原理，將長度單位放大或細分的測量器具，例如氣動量儀、電感式測微儀、立式接觸干涉儀、測長儀和萬能工具顯微鏡等。
量具、量儀按其用途一般可分為：
1、基準量具與量儀
量具——量塊、多面棱體、線紋尺等。
量儀——激光光波比較儀、光波干涉比較儀、立式光學計等。
2、通用量具與量儀
量具——鑄鐵平板、鑄鐵平台、檢驗平板、劃線平板、鉚焊平板、裝配平板、大理石平板、平台、卡規、塞規、環規、塞尺、鋼直尺、游標卡尺、深度尺等。
量儀——百分表、千分表、杠桿百分表、測微儀、測長儀、光較儀等。
量儀按其工作原理還可以分為：
（1）機械量儀：利用杠桿、齒輪、彈簧等作為傳動放大機構，通過讀數裝置表現出來的一種測量儀器。
（2）光學量儀：利用光的反射原理所構成的光學杠桿放大作用所製成的測量儀器。
（3）氣動量儀：利用壓縮空氣流過零件表面時壓力或空氣流量變化的原理所構成的測量儀器。
（4）電動量儀：將長度尺寸的變化轉變為電感、電容等電量變化的測量儀器。
3、測量量具與量儀
量具——角尺、正弦規、萬能量角尺、圓錐量規、7：24錐度檢驗棒、角度量塊等。
量儀——水平儀、光學分度頭、光學測角儀和光學合像水平儀等。
4、檢測幾何形狀與相互位置的量具與量儀
量具——鑄鐵平板、鑄鐵平台、樣板尺等。
量儀——偏擺檢查儀、圓度儀和平直度測量儀等。
5、檢測表面光潔度的量具與量儀
量具——光潔度樣板。
量儀——干涉顯微鏡、輪廓儀和光切顯微鏡等。
6、檢測螺紋的量具與量儀
量具——三針、螺紋百分尺和螺紋塞規、螺紋環規等。
量儀——螺距測量儀、絲杠測量儀等。
7、檢測齒輪的量具與量儀
量具——公法線千分尺、齒輪跳動檢查儀、齒厚游標卡尺。
量儀——漸開線齒形檢查儀、周節檢查儀、基節儀、齒向檢查儀、單面嚙合檢查儀等。
8、專用量具和量儀
各種形式的量具和量儀都具有一個共同點，即它們必須具有：檢測、比較、顯示標准值和被測之間的差別等三個基本功能，其它的一些功能可以滿足多樣化的需要。

⑷ 光學測微器的基本工作原理

測繪信息與工程Journal of Geomatics 2002 Aug：27(4) 23 文章編號：1007—381 7(2002)04—0023—02 中圖分類號：P245；TH741 文獻標識碼：B 光學測微器的原理、檢定及誤差分析路傑(中國地震局地震研究所．武漢市小洪山中區7o號．430071) 摘要著重討論了高精度光學測微器的基本工作原理、檢定方法及誤差分析。關鍵詞測微器；平板玻璃；光楔；檢定；誤差測微器是光學測量、計量儀器中的主要讀數設備．它使得測量更直接快捷、更精確。新的國家計量檢定規程對其性能進行了嚴格的技術要求，下面針對水準儀中高精度光學測微器(單平板測微和單光楔測微)進行探討。1 基本工作原理1．1 單平板測微光線以一定的入射角a通過平板玻璃後，光線會產生平行移動量z，或平板玻璃旋轉a角時，光線也會產生平行移動量Z(如圖1所示)．即Z= d{1一Ecos~／(n。一sin。口)]「。)sina 一般採用正切機構有效地補償平板玻璃的非線性誤差，故光線移動量z的簡化公式為：Z—tanaEd(n一1)／,1] 當轉動平板玻璃．瀆出其轉角a，即可實現測微。平板玻璃的旋轉由齒條機構來帶動，齒條圖l 平板玻璃光學原理圖由裝在測微手輪同一軸上的齒輪來帶動，其工作原理如圖2 所示。當平板玻璃旋轉a角時，則有tana：／／R．其中為齒條移動量，為平板玻璃旋轉軸至齒條的距離．即一( ／180)0。式中，r為齒輪的半徑，為齒輪轉角即測微輪轉角。故當平板玻璃旋轉a角時，光線移動量則為：板玻——、電廠、＼、J，-●_ 一滄r 、■圖2 簡化機構實現圖Z —[(Yl一1)／n]tana—[( 一1)／n (丌r／180R) 可以看出，Z ．故允許平板玻璃對望遠鏡視軸有較大傾角時，仍滿足誤差要求。1．2 單光楔測微在凋焦至無窮遠的情況下，當光楔旋轉一定角度時．光線將產生相對的偏移量，其工作原理如圖3所示。當光楔旋旋角時．光線偏移a角，投影到z軸和軸．則產生偏移分量a 和a 。一般觀測上下移動量．有一I口l sin／／一(，2—1)Asln／~ 式中．為光楔折射率，為光楔楔角，可以看出ay~CA，因此在設計中無原理誤差。2 檢定方法按規程JJG 960—2001要求，測微器主要用於檢定調焦運行誤差時．必須進行示值誤差的檢定，其中一級測微器示值誤差小於等於0．1 5 mm。對正調焦儀器(如DS系列和DSZ 系列)，按規程JJG ．96O一2OO1要求進行檢定和數據處理。對負調焦儀器(如JSJ系列檢驗儀)採取如下方法：可用2～3台同等級正』圖3 光楔工作原理圖調焦儀器的測微器先進行互比，再以其為標准，檢定負調焦儀器測微器；也可用更高等級的測微器直接檢定。少數高精度儀器(如JSJ系列檢驗儀)還包括光楔測微器，可以精度高於此光楔測微器的光電自準直儀作為標准儀器，將JSJ系列檢驗儀調焦至無窮遠，按規程JJG 960-2001要求進行檢定和數據處理。3 誤差分析3．1 平板測微器1)原理誤差。平板測微器因採用正切機構而產生原理誤差。已知儀器d一26 rflm，n= 1．516 3，最大角口一29．457。，則AZ?= I [( 一1)／n]tan口一dE1一COSG?／(，2 一sin 口) ]sin~n1a I一0．024 mFi1 在實際中．通過校正行差，使得△z?一0．024 × 4O 一0．01 mm 一10 m 即1—10 m 。2)加工引起的誤差：。主要有平板玻璃的加工誤差、齒輪齒條的嚙合間隙誤差以及齒條上的連接頭與平板玻璃連接槽之間的間隙誤差。a．平板玻璃的加工誤差又分為：①平板玻璃的平行差，當< 1 時對光線偏移量的影響可忽略不記。②平板玻璃的最小焦距，當表面光圈N≤O．1時對光線的偏移量沒有影響。⑧平板玻璃的厚度差△對光線偏移量的影響。已知△≤0．02 mm，一1．516 3，取口角最大值為29．457。，變換系數取K= ~／3(以下K 均取此值)，則有維普資訊http://www.cqvip.com 24 測繪信息與工程Jou rnal of Geomatics 2002 Aug；27(4) ，2】=△z／K = △[(，2—1)／(Kn)]tans一0．02× [(1．51 6 3—1)／。。。。一(、／3 × 1．51 6 3)]tan29．457= 2 m b．齒輪萏醯哪齪霞湎段蟛睢！S捎誆捎昧說*性機構．嚙合間隙在0．5 ～3 之間，已知測微手輪的最小刻線間隔為1OO ，最小刻度單位為0．05 mm，則，」2 2—3／100 × 0．05× 1／K = 1／*m 12．齒條上的連接頭與平板玻璃連接槽之間的間隙誤差，z s。配合間隙產生轉角誤差為±As，已知最大配合間隙△= 0．009 mm，到轉動軸的距離r 一1 9 mm，則，23一AZ／K = 1／~／3 × [(，2—1)／n]tan2Aa= 1／3 × [26× (1．51 6 3—1)／1．516 3]tan2× (360× 0．009／(2 × 1 9)一5／*m 由此，可得加工的中誤差，2= (2。+ 1 + 5 ) 一6／*m 3)人為誤差m 。主要有以下幾種情況引起：a．瞄準誤差挑l。已知Ni002測微器望遠鏡放大率V一42，P =1 5 ，則，3 一± fi／K 一± P × 5× 10s／(KVp )一± (15 × 5× 10。)／(~／3 × 42× 20 626 5 )一5／*m b．JSJ檢驗儀平板測微器估讀誤差已知最小刻度r 一0．05 mm，則，32= r／SK = 0．05／5 ~／3 —6／*m c．Ni002測微器估讀誤差，已知最小刻度r一0．05 mm，則。一6 m，由此，可得人為的中誤差：，3一(5 + 6 + 6。) = 10 m d．比對儀器引入的誤差。多次檢定Ni002測做器，取試驗平均值，一1 5 m。綜合3．1節的分析，得出JSJ系列檢驗儀平板測微器的誤差為：平板一( f+ ；+ ；+ ?」一22／*m 3．2 光楔測微器1)加工引起的誤差。主要有光楔楔角加工誤差引起的示值誤差、光楔的最小焦距誤差以及機械配合間隙引起的誤差。a．光楔楔角加工誤差△A 引起的示值誤差已知JSJ 儀器楔角誤差△A 的最大范圍為± 0．5」，一1．51 6 3，口= 90。，則ll—As ／K 一(，z一1)AA?sinAfi／K 一(1．516 3—1)×0．5×sin90／了一o．15，b．光楔的最小焦距誤差。當表面光圈N≤0．2時．對光線的偏移量沒有影響。c．機械配合間隙引起的誤差。。加工精度可以保證間隙在5 ～1 5 之間．則l2=As ／K = (，z一1)AsinAfi／K = 3O」× sin1 5 ／~／3 ：0．08」由此，可得加工引起的中誤差l= ( l+ 2)」= o．1 7」2)人為誤差。。主要有以下幾種情況引起：a．瞄準誤差：。。已知o．5」級光電自準直儀放大率為51，取P；一1 5」，則2l=4-(fl／K)= ± (P~／KV)一± (1 5"／~／3 × 51)一0．1 7」b．JSJ檢驗儀光楔測微器估讀誤差。：。已知最小刻度z-= 1」，則2 2= r／SK 一1／5 ~／3 = 0．12」c．0．5 級光電自準直儀測微器估讀誤差。，已知最小刻度r：0．5」，則23一r／SK 一0．5／5 ~／3 = o．06 由此，可得人為的中誤差：2= (0．1 7 + o．1 2 + o．06。) 一o．22 綜合3．2節的分析，得出jsj系列檢驗儀光楔測微器的誤差為：= ( + ；) 一(0．17。+ 0．22 ) 。= 0．28」4 結束語通過對高精度光學測微器的基本工作原理、檢定方法及誤差分析的討論，可以看出，此類測微器可作為高精度計量標准儀器中的讀數測微裝置。參考文獻[1] 唐務浩．陳敬芬．大地測量儀器學[M]．武漢：武漢測繪科技大學出版社．1995．[2] 王爾祺．光學儀器精度分析[M ]、北京：測繪出版社．I988．[3] 蘇瑞祥．大地測量儀器[M]．北京：測繪出版社．I979．收稿日期：2002—04—18．作者簡介：路傑，工程師．主要從事計量標准儀器研製及計量檢定方法研究。PRINCIPLE，VERIFICATION ADN ERROR ANALYSIS OF OPTICAL M ICROMETER LU Jie (Institute of Seism ology·China，Seismology Bureau．70 M iddle Xiaohongshan．W uhan 43007 1．Ohina) ABSTRACT This paper m ainly discusses the basic principle，verification method and error analysis of high accuracy optical m icrometer．KEY WORDS microm eter；plane parallel glass；optical wedge；verification：error 維普資訊http://www.cqvip.com

⑸ 在機械行業的比較測量法的原理是什麼

利用相對法進行測量的長度測量工具（圖：比較儀）,主要由測微儀和比較儀座組成。測量時，先用量塊研合組成與被測基本尺寸相等的量塊組，再用此量塊組使測微儀指針對零，然後換上被測工件，測微儀指針指示的即為被測尺寸的偏差值。按測微儀所採用的放大原理，比較儀可分為機械式比較儀、光學比較儀和電學比較儀3種
機械式比較儀 和百分表和千分表、杠桿齒輪式測微儀或扭簧測微儀等機械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級放大機構是杠桿，其分度值通常為1微米。扭簧測微儀是一種具有無機械摩擦放大機構的指示表（圖 [扭簧測微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲，另一端向左扭曲的金屬薄片（寬度為0.1毫米左右，厚度為0.005毫米左右），稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當測桿上下移動時，可動支架把上下位移轉換為左右位移，使扭簧絲縮短或伸長，並帶動指針轉一個角度，從表盤上即可讀出測桿的位移量。扭簧測微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達0.02微米。示值范圍一般為±50個分度值。機械式比較儀常用在車間和計量室測量工件外徑和厚度等。
光學比較儀 利用光學測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、卧式和影屏式 3種。①立式光學比較儀：又稱立式光學計,圖3[光學測微儀的光學系統]為光學測微儀的光學系統。它是按自準直原理（見自準直儀）設計的。分劃板位於物鏡焦平面上，平面反射鏡按杠桿原理設置。當測桿上下移動時，平面反射鏡繞支點轉動一個很小角度，由平面反射鏡反射回去的光線，經直角棱鏡後成象在分劃板上的刻度尺象發生偏移。偏移量的大小與測桿移動距離成比例。光學測微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學計適宜在計量室使用，測量范圍為0～180毫米，常用於檢定量塊和光滑量規以及測量工件的外徑、厚度。②卧式光學比較儀：又稱卧式光學計，其工作原理與立式光學計相同，測量范圍為0～500毫米，適用於在計量室測量較大的或在立式光學計上不易定位的工件，如圓盤等，也常利用測孔附件測量孔徑。③影屏式光學比較儀:又稱投影光學計,其光學系統與立式光學計相似，但刻度尺影像經投影放大透鏡放大後成象於影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學系統採用多次反射以增大光學杠桿的放大比。此外，還有用光波干涉法測量的接觸式干涉比較儀，其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。

⑹ 求杠桿齒輪比較儀、扭簧比較儀、扇形測微儀最新檢定規程

這些檢定規程，想必你已在網上搜尋過，可到省計量院或情報所購買。

⑺ 量具，量儀有哪些具體細分分類

量具是指用來測量或檢驗零件尺寸的器具，結構比較簡單，這種器具能直接指示出長度的單位、界限。列如鑄鐵平板、鑄鐵直角尺、卡尺、千分尺、量塊、刀口平尺等。
量儀是指用來測量零件或檢定量具的儀器，結構比較復雜。它是利用機械、光學、氣動、電動等原理，將長度單位放大或細分的測量器具，例如氣動量儀、電感式測微儀、立式接觸干涉儀、測長儀和萬能工具顯微鏡等。
量具、量儀按其用途一般可分為：
1、基準量具與量儀
量具——量塊、多面棱體、線紋尺等。
量儀——激光光波比較儀、光波干涉比較儀、立式光學計等。
2、通用量具與量儀
量具——鑄鐵平板、鑄鐵、檢驗平板、劃線平板、鉚焊平板、裝配平板、大理石平板、、卡規、塞規、環規、塞尺、鋼直尺、游標卡尺、深度尺等。
量儀——百分表、千分表、杠桿百分表、測微儀、測長儀、光較儀等。
量儀按其工作原理還可以分為：
（1）機械量儀：利用杠桿、齒輪、彈簧等作為傳動放大，通過讀數裝置表現出來的一種測量儀器。
（2）光學量儀：利用光的反射原理所構成的光學杠桿放大作用所製成的測量儀器。
（3）氣動量儀：利用壓縮空氣流過零件表面時壓力或空氣流量變化的原理所構成的測量儀器。
（4）電動量儀：將長度尺寸的變化轉變為電感、電容等電量變化的測量儀器。
3、測量量具與量儀
量具——角尺、正弦規、萬能量角尺、圓錐量規、7：24錐度檢驗棒、角度量塊等。
量儀——水平儀、光學分度頭、光學測角儀和光學合像水平儀等。
4、檢測幾何形狀與相互位置的量具與量儀
量具——鑄鐵平板、鑄鐵、樣板尺等。
量儀——偏擺檢查儀、圓度儀和平直度測量儀等。
5、檢測表面光潔度的量具與量儀
量具——光潔度樣板。
量儀——干涉顯微鏡、輪廓儀和光切顯微鏡等。
6、檢測螺紋的量具與量儀
量具——三針、螺紋百分尺和螺紋塞規、螺紋環規等。
量儀——螺距測量儀、絲杠測量儀等。
7、檢測齒輪的量具與量儀
量具——公法線千分尺、齒輪跳動檢查儀、齒厚游標卡尺。
量儀——漸開線齒形檢查儀、周節檢查儀、基節儀、齒向檢查儀、單面嚙合檢查儀等。
8、專用量具和量儀
各種形式的量具和量儀都具有一個共同點，即它們必須具有：檢測、比較、顯示標准值和被測之間的差別等三個基本功能，其它的一些功能可以滿足多樣化的需要。

⑻ 千分表和千分尺怎麼讀

千分表是通過齒輪或杠桿將一般的直線位移（直線運動）轉換成指針的旋轉運動，然後在刻度盤上進行讀數的長度測量儀器。
1、表盤千分表
⑴刻度為0.01mm的千分表
測量軸移動1mm相當於長軸轉動一圈，測量范圍有5mm、10mm不等。
⑵刻度為0.001mm的千分表
測量軸移動0.2mm相當於長軸轉動一圈，測量范圍有1mm、2mm、5mm不等。
2、杠桿式千分表
杠桿式千分表中，一般有按照0.01mm分度，測量范圍為0.5mm、0.8mm的千分表以及按照0.002mm分度，測量范圍為0.2mm、0.28mm的千分表。
3、電子數顯千分表。
4、數顯測厚千分表。
5、數顯內徑千分表。

螺旋測微器又稱千分尺（micrometer）、螺旋測微儀、分厘卡，是比游標卡尺更精密的測量長度的工具，用它測長度可以准確到0.01mm，測量范圍為幾個厘米。
讀數：

1、先讀固定刻度
2、再讀半刻度，若半刻度線已露出，記作 0.5mm；若半刻度線未露出，記作 0.0mm；
3、再讀可動刻度（注意估讀）。記作 n×0.01mm；
4、最終讀數結果為固定刻度+半刻度+可動刻度+估讀

⑼ 千分尺尺的測量精度是多少

千分尺的測量精度是0.01mm。

拓展資料

螺旋測微器也稱千分尺，它主要由主尺和螺旋尺組成。

主尺：用於讀取固定刻度所顯示的最大毫米刻度數(包括0.5毫米)。

螺旋尺: 用於讀取主尺上固定刻度的水平線對應的螺旋尺上可動刻度的刻度(包括估讀)。

在使用螺旋測微器時，為使每次測量均在被測物上施以相同的壓力，以減少形變誤差；也
為了避免損壞精確的螺旋刻度起見，當頂針已將被測物輕輕夾住時，勿再旋轉圓柱套筒，此時應旋轉位於套筒後的微調鈕，直到聽到三響「滴答」聲為止，讀取數值即可。

⑽ 求助：《量具內校標准》！

量具類產品國家標准

一、長度測量器具
1. 量具類
GB/T 1957-1981 光滑極限量規
GB/T 6093-2001 幾何量技術規范（GPS） 長度標准 量塊
GB/T 6322-1986 光滑極限量規 型式與尺寸
GB/T 9056-1988 鋼直尺
JB/T 7980-1999 半徑樣板 (替代 GB 9054-88)
JB/T 8788-1998 塞尺
JB/T 10313-2002 量塊檢驗方法

2. 卡尺類
GB/T 1214.1-1996 游標類卡尺 通用技術條件
GB/T 1214.2-1996 游標類卡尺 游標卡尺
GB/T 1214.3-1996 游標類卡尺 高度游標卡尺
GB/T 1214.4-1996 游標類卡尺 深度游標卡尺
GB/T 6317-1993 帶表卡尺
GB/T 14899-1994 電子數顯卡尺
JB/T 5608-1991 電子數顯深度卡尺
JB/T 5609-1991 電子數顯高度卡尺
JB/T 8370-1996 游標類卡尺 游標卡尺(測量范圍為0-1500mm、0-2000mm)

3. 千分尺類
GB/T 1216-1985 外徑千分尺
GB/T 1218-1987 深度千分尺
GB/T 6312-1986 壁厚千分尺
GB/T 6313-1986 尖頭千分尺
GB/T 6314-1986 三爪內徑千分尺
GB/T 8061-1987 杠桿千分尺
GB/T 8177-1987 內徑千分尺
GB/T 9057-1988 單桿內徑千分尺
GB/T 9058-1988 奇數溝千分尺
JB/T 2989-1999 板厚千分尺 (替代JB 2989-1981)
JB/T 4166-1999 帶計數器千分尺 (替代JB 4166-1985)
JB/T 6079-1992 電子數顯外徑千分尺
JB/T 10005-1999 小測頭千分尺 (替代ZB J42 002-1987)
JB/T 10006-1999 內測千分尺 (替代ZB J42 003-1987)
JB/T 10007-1999大外徑千分尺(測量范圍為1000～3000mm)(替代ZB J42 004-87)
JB/T 10032-1999 微米千分尺
JB/T 10033-1999 測微頭

4. 指示表類
GB/T 1219-2000 幾何量技術規范 長度測量器具:指示表 設計及計量技術要求
GB/T 4755-1984 扭簧比較儀
GB/T 6311-1986 大量程百分表
GB/T 6320-1997 杠桿齒輪比較儀
GB/T 6321-1986 光學扭簧測微計
GB/T 8122-1987 內徑百分表
GB/T 8123-1998 杠桿指示表
GB/T 18761-2002 電子數顯指示表
JB/T 3237-1991 杠桿卡規
JB/T 3712-1998 小扭簧比較儀
JB/T 5214-1991 曲軸量表
JB/T 5216-1991 硫化機測力表
JB/T 6081-1992 深度百分表
JB/T 7429-1994 電子塞規
JB/T 8346-1996 帶表卡尺 指示表
JB/T 8499-1996 電子柱電感測微儀
JB/T 8787-1998 峰值電感測微儀
JB/T 8790-1998 鋼球式內徑百分表
JB/T 8791-1998 漲簧式內徑百分表
JB/T 10014-1999 數顯電感測微儀
JB/T 10016-1999 測厚規
JB/T 10017-1999 帶表卡規
JB/T 10035-1999 厚度表
JB/T 10036-1999 電感式測微儀

二、 角度測量器具
GB/T 6092-1985 90°角尺
GB/T 6315-1996 游標萬能角度尺
GB/T 10943-1989 1:4圓錐量規
GB/T 11852-1989 圓錐量規 公差與技術條件
GB/T 11853-1989 莫氏與公制圓錐量規
GB/T 11854-1989 7:24工具圓錐量規
GB/T 11855-1989 鑽夾圓錐量規
JB/T 3325-1999 角度量塊及其附件 (替代 JB 3325-83)
JB/T 7973-1999 正弦規 (替代 GB 4973-85)
JB/T 8789-1998 1:24(UG)圓錐量規
JB/T 10015-1999 直角尺檢查儀
JB/T 10018-1999 正多面棱體
JB/T 10026-1999 帶表萬能角度尺
JB/T 10027-1999 方形角尺(方箱)

三、 形位誤差測量器具
GB/T 6091-1985 刀口形直尺
GB/T 16455-1996 條式和框式水平儀
JB/T 3238-1999 合像水平儀 (替代JB 3238-83)
JB/T 7974-1999 鑄鐵平板 (替代 GB 4986-85)
JB/T 7975-1999 岩石平板 (替代 GB 4987-85)
JB/T 7977-1999 鑄鐵平尺 (替代 GB 6318-86)
JB/T 7978-1999 鋼平尺和岩石平尺 (替代 GB 6319-86)
JB/T 10038-1999 電子水平儀
JB/T 10028-1999 圓度儀

四、 表面質量測量器具
GB/T 6060.1-1997 表面粗糙度比較樣塊 鑄造表面 (替代GB 6060.1-85)
GB/T 6060.2-1985 表面粗糙度比較樣塊 機械加工表面
GB/T 6060.3-1986 表面粗糙度比較樣塊 電火花加工表面
GB/T 6060.4-1988 表面粗糙度比較樣塊 拋光加工表面
GB/T 6060.5-1988 表面粗糙度比較樣塊 噴砂拋丸加工表面
GB/T 6062-1985 輪廓法觸針式表面粗糙度測量儀 輪廓記
錄儀及中線制輪廓計

五、 齒輪測量器具
GB/T 1217-1986 公法線千分尺
GB/T 5106-1985 圓柱直齒漸開線花鍵量規
GB/T 6316-1996 齒厚游標卡尺
GB/T 10919-1989 矩形花鍵量規
JB/T 6080-1992 電子數顯齒厚卡尺
JB/T 10008-1999 測量蝸桿
JB/T 10012-1999 萬能測齒儀
JB/T 10013-1999 萬能漸開線檢查儀
JB/T 10019-1999 齒輪齒距測量儀（原齒輪周節測量儀）
JB/T 10020-1999 萬能齒輪測量機
JB/T 10021-1999 齒輪螺旋線測量儀
JB/T 10022-1999 攜帶型齒輪齒距測量儀
JB/T 10023-1999 攜帶型齒輪基節測量儀
JB/T 10024-1999 立式滾刀測量儀
JB/T 10025-1999 齒輪雙面嚙合綜合測量儀
JB/T 10029-1999 齒輪單面嚙合整體誤差測量儀

六、 螺紋測量器具
GB/T 1581-1979 米制錐螺紋量規
GB/T 3934-1983 普通螺紋量規
GB/T 8124-1987 梯形螺紋量規 技術條件
GB/T 8125-1987 梯形螺紋量規 型式與尺寸
GB/T 10920-1989 普通螺紋量規 型式與尺寸
GB/T 10922-1989 非螺紋密封管螺紋量規
GB/T 10932-1989 螺紋千分尺
JB/T 1128-1999 間隙螺紋量規 (替代 JB 1128-70)
JB/T 3326-1999 量針 (替代 JB 3326-83)
JB/T 7981-1999 螺紋樣板 (替代 GB 9055-88)
JB/T 10031-1999 用螺紋密封的管螺紋量規

七、 其它測量器具
JB/T 5213-1991 內、外圓磨加工主動測量儀 技術條件
JB/T 5215-1991 開關觸發式三維感測系統
JB/T 7982-1999 刀具預調測量儀 精度 (替代 GB 10921-89)

八、 測量鏈
JB/T 3760-1991 浮標式氣動量儀
JB/T 4167-1999 薄膜式氣動量儀 (替代 JB 4167-85)
JB/T 5212-1991 氣動測量頭 技術條件
JB/T 5610-1991 雙頻激光干涉儀
JB/T 8371-1996 容柵線位移測量系統 數顯單元0.01mm
JB/T 10037-1999 磁柵線位移測量系統
JB/T 10030-1999 光柵線位移測量系統
JB/T 10034-1999 光柵角位移測量系統

九、 通用器件及附件
JB/T 8047-1999 V形架 (替代 GB 4972-85)
JB/T 3323-2001 量塊附件
JB/T 10009-1999 比較儀座 (替代 ZB J42 007-87)
JB/T 10010-1999 磁性表座 (替代 ZB J42 008-87)
JB/T 10011-1999 萬能表座 (替代 ZB J42 009-87)

十、 術語
GB/T 17163-1997 幾何量測量器具術語 基本術語
GB/T 17164-1997 幾何量測量器具術語 產品術語
JB/T 7976-1999 輪廓法測量表面粗糙度的儀器 術語 (替代 GB 6061-85)
GB/T 8372-1996 幾何量測量儀器型號編制方法

十一、 產品分等標准
JB/T 54247.1-1996 量具量儀產品質量分等 通則
JB/T 54247.2-1996 量具量儀產品質量分等 抽樣驗收細則
JB/T 50047-1999 量具量儀產品質量分等 電子塞規
JB/T 50114-1998 量具量儀產品質量分等 游標萬能角度尺
JB/T 50146-2000 量具量儀產品質量分等 漲簧式內徑百分表
JB/T 50147-2000 量具量儀產品質量分等 小扭簧比較儀
JB/T 50148-2000 量具量儀產品質量分等 鋼球式內徑百分表
JB/T 54248-2000 量具量儀產品質量分等 指示表
JB/T 54250-1994 杠桿百分表產品質量分等標准 (替代 JB/GQ.F 5053-86)
JB/T 54251-1994 杠桿千分表產品質量分等標准 (替代 JB/GQ.F 5054-86)
JB/T 54252-1998 量具量儀產品質量分等 游標卡尺
JB/T 54253-1994 帶表卡尺產品質量分等標准 (替代 JB/GQ.F 5057-86)
JB/T 54254-1999 量具量儀產品質量分等 外徑千分尺
JB/T 54255-1999 量具量儀產品質量分等 杠桿千分尺
JB/T 54256-1994 量塊產品質量分等標准 (替代 JB/GQ.F 5061-86)
JB/T 54257-1994 刀口尺產品質量分等標准 (替代 JB/GQ.F 5062-86)
JB/T 54258-1994 水平儀產品質量分等標准 (替代 JB/GQ.F 5063-86)
JB/T 54259-1999 量具量儀產品質量分等 光滑極限量規
JB/T 54260-1999 量具量儀產品質量分等 鑄鐵平板
JB/T 54261-1999 量具量儀產品質量分等 岩石平板
JB/T 54262-1999 量具量儀產品質量分等 鑄鐵平尺
JB/T 54263-1999 量具量儀產品質量分等 鋼平尺和岩石平尺
JB/T 54265-1999 量具量儀產品質量分等 浮標式氣動量儀
JB/T 54272-1999 量具量儀產品質量分等 公法線千分尺
JB/T 54273-1998 量具量儀產品質量分等 齒厚游標卡尺
JB/T 54274-1994 杠桿齒輪比較儀產品質量分等標准 (替代 JB/GQ.F 5079-88)
JB/T 54275-1999 量具量儀產品質量分等 小測頭千分尺
JB/T 54276-1999 量具量儀產品質量分等 奇數溝千分尺
JB/T 54277-1999 量具量儀產品質量分等 壁厚千分尺
JB/T 54278-1998 量具量儀產品質量分等 高度游標卡尺
JB/T 54279-1999 量具量儀產品質量分等 尖頭千分尺
JB/T 54280-1999 量具量儀產品質量分等 深度千分尺
JB/T 54281-1998 量具量儀產品質量分等 深度游標卡尺
JB/T 54282-1999 量具量儀產品質量分等 微米千分尺
JB/T 54283-1999 量具量儀產品質量分等 電子數顯卡尺
JB/T 54285-1999 量具量儀產品質量分等 測微頭
JB/T 54286-1994 塞尺產品質量分等標准 (替代 JB/GQ.F 5092-90)
JB/T 54288-1999 量具量儀產品質量分等 電子數顯深度卡尺
JB/T 54289-1999 量具量儀產品質量分等 電子數顯高度卡尺
JB/T 54819-1992 電子數顯外徑千分尺產品質量分等標准
JB/T 54820-1992 萬能漸開線檢查儀產品質量分等標准
JB/T 54821-1992 萬能齒輪測量機產品質量分等標准
JB/T 54822-1992 齒輪螺旋線測量儀產品質量分等標准
JB/T 54823-1992 齒輪雙面嚙合綜合測量儀產品質量分等標准

十二、出口產品標准
LB 001-95 英制指示表
LB 002-98 帶標尺的直角鋼尺
ZB J42 031 89 游標卡尺（測量上限為1500mm和2000mm）
JB 5608-91 電子數顯深度卡尺
JB 5609-91 電子數顯高度卡尺
JB 5680-92 電子數顯齒厚卡尺
GB 1218-87 深度千分尺
GB 9057-88 單桿式內徑千分尺
GB 9058-88 奇數溝千分尺
ZB J42 038-90 微米千分尺
ZB J42 039-90 測微頭
JB 6079-92 電子數顯外徑千分尺
ZB J42 021-88 漲簧式內徑百分表
ZB J42 041-90 厚度表
JB 3237-91 杠桿卡規
JB 5214-91 曲軸量表
JB 5216-91 硫化機測力表
JB 6081-92 深度百分表
ZB J42 007-87 比較儀座
ZB J42 008-87 磁性表座
ZB J42 009-87 萬能表座
ZB J42 016-87 正多面棱體
ZB J42 028-88 方形角尺
GB 9056-88 鋼直尺
GB 6060.4-88 表面粗糙度比較樣塊 拋光加工表面
GB 6060.5-88 表面粗糙度比較樣塊 拋（噴）丸、噴沙加工表面
GB 9054-88 半徑樣板
GB 9055-88 螺紋樣板
GB 11852-89 圓錐量規公差與技術條件
GB 11853-89 莫氏與公制圓錐量規
GB 11854-89 7：24工具圓錐量規
GB 11855-89 鑽夾圓錐量規
GB 10919-89 矩形花鍵量規
GB 10920-89 普通螺紋量規 型式與尺寸
GB 10922-89 非螺紋密封的管螺紋量規
ZB J42 037-89 用螺紋密封的管螺紋量規
ZB J42 013-87 直角尺檢查儀
ZB J42 012-87 數顯電感測微儀
ZB J42 018-88 齒輪周節測量儀
ZB J42 019-88 萬能齒輪測量儀
ZB J42 020-88 齒輪螺旋線測量儀
ZB J42 022-88 攜帶型齒輪周節測量儀
ZB J42 023-88 攜帶型齒輪基節測量儀
ZB J42 024-88 立式滾刀測量儀
ZB J42 025-88 齒輪雙面嚙合綜合周節測量儀
GB 10921-89 刀具預調測量儀 精度
ZB J42 027-88 電子水平儀
ZB J42 030-88 圓度儀
ZB J42 032-89 齒輪單面嚙合整體誤差測量儀
ZB J42 033-89 瓷柵線位移測量系統
ZB J42 034-89 瓷柵線位移感測器 技術條件
ZB J42 036-89 光柵線位移測量系統
ZB J42 040-90 光柵角位移測量系統
ZB J42 042-90 電感式測微儀
JB 3760-91 浮標式氣動量儀
JB 5212-91 氣動測量頭 技術條件
JB 5213-91 內、外圓磨加工主動測量儀 技術條件
JB/T 6082-92 觸發感測器系統 系列型譜
JB 5215-91 開關觸發式三維感測器系統
JB 5610-91 雙頻激光干涉儀